四. 芯片测试

　　㈠ 驱动IC耐压需求

　　屏幕驱动芯片耐压是很重要的，一般屏幕虽说供电只有5V，可是显示内容变化剧烈，因此而产生的电压峰峰值(Vp-p)远比我们想象的要高。开关电源本身就有峰值电压，与选择电源有很大的关系，但是客户允许的售价限制我们的电源选择水平，这里告诉大家开关电源是其中因数之一。对减小纹波，屏幕PCB布线也非常关键，这是个很赫手的问题，需要有专门的PCB 工程师。屏幕电源分布供电情况，也是重要的因数。

　　受上述因数影响，电压峰峰值(Vp-p)计算是复杂的，从应用角度实测，静态屏幕通常大约在7-9V之间。扫描屏幕大概在10-13V之间，扫描屏幕电压峰峰值升高和扫描屏幕开关速度提高有密切关系，传输速率提升，提高LED开关速度，同时也提升电压波动变化率，电压峰峰值也会提高。

　　前面讲过最开始是采用74HC595设计屏幕，后来发现耐压只有9V(5V低压工艺)设计的74HC595会因此损坏，分析认为是电压峰峰值所致，在屏幕的发展过程中不断的提高输出端口的耐压，彻底的解决了这个问题。这些年有部门公司设计16通道IC，采用了耐压9V的设计，在部分屏幕使用没有问题(多是静态屏幕)，可是有些公司的LED屏幕上使用损坏率很高(大多是扫描屏幕或PCB设计差异)，问题源于此。

　　近年来部分公司设计出网格装的屏幕，这种长距离细线径供电方式，电压峰峰值(Vp-p)尤为突出，部分波峰电压高达15V以上，致使多款屏幕驱动芯片在网格屏幕上，显露出耐压不足情况。16通道恒流驱动器还会用到屏幕以外的LED装饰领域，比如护栏管等，设计供电电压在12V以上，这些设计电压峰峰值(Vp-p)也会高达15V左右，甚至更高。因此驱动芯片输出端口耐压是非常重要的参数。

　　㈡ 耐压能力测试

　　既然是重要的参数，那就给出简易可行的测试方式。随机抽取CYT62726共3pcs芯片，测试芯片其中一个端口，芯片给予正常供电，是关闭状态。CYT62726规格标准是耐压17V，17V是一定能给予客户保证的耐压。

　　测试按照一定的步骤，从5V供电不断的提高到17V，漏电在6nA以内，对端口串接的LED做直观判断，LED看不到亮度。继续增加电压到24V，IC仍然可以承受，随着电压增加端口漏电也随之增加，超过0.5uA时LED有机会看到亮度，25V以上IC会损坏。

　　结果：经测试端口加载17V电压都在10nA以内，结果是满意的。可观察到LED亮度点亮电流在1uA，小于0.5uA电流可视为没有漏电。红色数据表示到了芯片的极限，工作已经不能正常。

　　㈢ IC可靠性测试

　　驱动芯片可靠性测试是复杂的，也是很重要的，它不仅要对芯片设计做出分析，还要对封装载体的可靠度评估，对屏幕驱动芯片，属于功率器件发热量很大，可靠性测试至关重要。

　　下面是一般性测试结果，主要是对封装的可靠性做出评估。